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      精测电子联合长光辰芯发布全新高精度显示器缺陷检测解决方案

         2025-03-11 精测电子1050
      核心提示:据“精测电子”官微,3月10日,武汉精测电子(300567)集团股份有限公司(以下简称"精测电子")与长春长光辰芯微电子股份有限公司(以下简称"长光辰芯")联合宣布推出全球首款基于2.71亿像素CMOS图像传感器的全新高精度显示器缺陷检测解决方案,为高端工业检测、显示器质量缺陷检测等细分领域带来全新的技术突破。

      据“精测电子”官微,3月10日,武汉精测电子(300567)集团股份有限公司(以下简称"精测电子")与长春长光辰芯微电子股份有限公司(以下简称"长光辰芯")联合宣布推出全球首款基于2.71亿像素CMOS图像传感器的全新高精度显示器缺陷检测解决方案,为高端工业检测、显示器质量缺陷检测等细分领域带来全新的技术突破。

      本次发布的全新解决方案采用了长光辰芯2.71亿像素超高分辨率的CMOS图像传感器——GMAX15271BSI,该芯片具备先进的1.5μm背照式像素技术,同时得益于先进的电路设计,可实现0.75e-的超低读出噪声和73.9dB的高动态范围,配合高速sub-LVDS数据接口,可确保设备在高传输速率下数据的完整性与稳定性。

      结合精测电子独创的显示屏单像素亮色度精确提取算法技术,传感器的2.71亿像素为显示屏的亮色度检测和补偿提供更高的成像Mapping(分辨率高达3800*3000的 Micro OLED显示器,依然可以高达5*4.6的Mapping),弱化成像时的摩尔纹,可极大降低对高分辨率大尺寸显示器的微小缺陷检测时的误判,赋予了设备精确检测1/3 Dot缺陷的能力;极低的读出噪声和高动态范围结合高分辨率和独创算法,为显示器中低灰阶的微弱缺陷检测与补偿,提供了新的可能。

       
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